| 商标的详细信息 |
| 商标名称 |
RENESAS |
商标字头 |
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商标英文 |
RENESAS |
| 商标中文 |
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商标数字 |
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商标拼音 |
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| 注册号/申请号 |
5979248 |
国际分类号 |
42 |
申请日期 |
2007-4-4 0:00:00 |
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| 申请人名称(中文) |
株式会社瑞萨科技 |
申请人地址(中文) |
日本国东京都千代田区丸之内二丁目4番1号 |
| 申请人名称(英文) |
renesastechnologycorp. |
申请人地址(英文) |
4-1,marunouchi2-chome,chiyoda-ku,tokyo,japan |
| 商标图像 |
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商品 ／ 服务列表 |
[4220——计算机软件设计;计算机系统设计;计算机硬件咨询;替他人创建和维护网站;计算机程序复制;计算机软件安装;计算机软件维护;计算机软件出租;计算机软件领域的技术编写(替他人);提供非下载应用软件的临时使用(用于半导体制造和电子电路设计);计算机编程;计算机软件维护.;计算机出租;提供不可下载的计算机程序服务;] [4209——半导体器件设计;有关半导体器件设计领域的指导和咨询;半导体器件检测,测试和研究;提供有关半导体器件设计及半导体器件设计、检测、测试和研究领域指导和咨询的信息;半导体芯片设计;半导体芯片设计领域的指导和咨询;半导体芯片检测、测试和研究;提供有关半导体芯片设计及半导体芯片设计、检测、测试和研究领域指导和咨询的信息;集成电路设计;集成电路设计领域的指导和咨询;集成电路检测、测试和研究;提供有关集成电路设计及集成电路设计、检测、测试和研究领域指导和咨询的信息;微电脑设计;微电脑设计领域的指导和咨询;微电脑检测、测试和研究;提供有关微电脑设计及微电脑设计、检测、测试和研究领域指导和咨询的信息;集成电路卡设计;集成电路卡设计领域的指导和咨询;集成电路卡检测、测试和研究;提供有关集成电路卡设计及集成电路卡设计、检测、测试和研究领域指导和咨询的信息;半导体存储器设计;半导体存储器设计领域的指导和咨询;半导体存储器检测、测试和研究;提供有关半导体存储器设计及半导体存储器设计、检测、测试和研究领域指导和咨询的信息;电路板设计;电路板设计领域的指导和咨询;电路板检测、测试和研究;提供有关电路板设计及电路板设计、检测、测试和研究领域指导和咨询的信息;半导体制造设备设计;半导体制造设备设计领域的指导和咨询;半导体制造设备检测、测试和研究;提供有关半导体制造设备设计及半导体制造设备设计、检测、测试和研究领域指导和咨询的信息;半导体检测设备设计;半导体检测设备设计领域的指导和咨询;半导体检测设备检测、测试和研究;提供有关半导体检测设备设计及半导体检测设备设计、检测、测试和研究领域指导和咨询的信息;半导体测试设备设计;半导体测试设备设计领域的指导和咨询;半导体测试设备检测、测试和研究;提供有关半导体测试设备设计及半导体测试设备设计、检测、测试和研究领域指导和咨询的信息;半导体器件、集成电路、中央处理器和电子电路的研究、开发和设计(替他人);在半导体、半导体器件、集成电路、中央处理器和电子电路的研究、开发和设计(替他人)领域进行监测、建议、咨询和信息提供服务;半导体器件、集成电路、中央处理器和电子电路研究、开发、设计、编程和维护领域的技术编写(替他人);半导体制造技术评估(替他人);为半导体器件、集成电路、中央处理器和电子电路研究、开发和设计提供技术信息;与电气有关的技术研究;半导体测试设备、半导体检测设备以及半导体制造设备的检测服务;提供有关半导体测试设备、半导体检测设备以及半导体制造设备的检测信息;按照他人的要求和/或指令对半导体器件的制造进行检测;半导体测试设备和半导体检测设备的出租;提供有关半导体测试设备和半导体检测设备的出租信息;通过展示和说明的方式提供与半导体测试设备性能和运转有关的技术咨询;通过展示和说明的方式提供与半导体检测设备性能和运转有关的技术咨询;通过展示和说明的方式提供与半导体制造设备性能和运转有关的技术咨询;通过展示和说明的方式提供与电子计算器性能和运转有关的技术咨询;通过展示和说明的方式提供与微电脑性能和运转有关的技术咨询;] [4214——电气测试;机械测试;机械研究;] |
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| 初审公告期号 |
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注册公告期号 |
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| 初审公告日期 |
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注册公告日期 |
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| 专用权期限 |
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年 |
| 申请人2 |
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代理人名称 |
中原信达知识产权代理有限责任公司 |
| 申请人3 |
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商标类型 |
普通商标 |
| 是否共有商标 |
否 |
备注 |
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| 商标流程 |
商标注册待审中(2007-04-04)--->变更待审中(2007-11-09) |
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